Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote
Tipo de material: TextoDetalles de publicación: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007Descripción: 96 p. 30 cmTema(s):Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
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Biblioteca UNACH Referencia (Procesos Técnicos) | R NCh 44.Of2007 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 75282 |
Corregida y reimpresa, 2009
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