Imagen de Google Jackets

Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Planes de muestreo indexados por nivel de calidad aceptable (AQL) para la inspección lote por lote

Por: Tipo de material: TextoTextoDetalles de publicación: Santiago Instituto Nacional de Normalización 2007Descripción: 96 p. 30 cmTema(s):
Tipo de ítem: Libro de referencia
Etiquetas de esta biblioteca: No hay etiquetas de esta biblioteca para este título. Ingresar para agregar etiquetas.
Valoración
    Valoración media: 0.0 (0 votos)
Existencias
Biblioteca actual Signatura Copia número Estado Fecha de vencimiento Código de barras
Biblioteca UNACH Referencia (Procesos Técnicos) R NCh 44.Of2007 (Navegar estantería(Abre debajo)) 1 Disponible 75282

Corregida y reimpresa, 2009

índice

No hay comentarios en este titulo.

para colocar un comentario.

Con tecnología Koha